快充老化柜老化測試平臺

簡要描述：快充老化柜老化測試平臺（Fast Charging Aging Cabinet）?? 或 ??快充老化測試平臺（Fast Charging Burn-in Test Platform）??，是專為 ??快充類電源產品?? 設計的 ??高精度、高穩定性、多功能的測試與老化設備??，主要用于：對 ??快充充電器、適配器、充電模塊、移動電源、車充、快充線材、電池快充系統?? 等進行 ??長時間老化

產品型號：DX-D313S
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-11-11
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一、什么是快充老化柜 / 老化測試平臺？

快充老化柜（Fast Charging Aging Cabinet）或快充老化測試平臺（Fast Charging Burn-in Test Platform），是專為快充類電源產品設計的高精度、高穩定性、多功能的測試與老化設備，主要用于：

•
對快充充電器、適配器、充電模塊、移動電源、車充、快充線材、電池快充系統等進行長時間老化測試；
•
模擬真實快充使用場景（如高電壓、大電流、高溫環境）下的連續工作狀態；
•
驗證產品在快充模式下的穩定性、可靠性、兼容性、溫升控制與保護功能；
•
篩選早期失效產品，提升出廠質量與用戶體驗；
•
為研發、生產、品控提供數據支持與質量保障。

二、快充老化柜老化測試平臺核心功能與測試能力

功能類別	說明
快充模式模擬	支持多種快充協議（如 QC、PD、SCP、FCP、AFC、VOOC、FlashCharge 等），可模擬真實快充環境
老化測試	長時間（數小時至數天）帶載運行，驗證產品長時間工作的可靠性與一致性
多協議兼容	支持多種主流快充協議，適配不同品牌/類型的快充設備
多通道測試	可同時測試多個快充產品，提高測試效率，適合批量老化
負載模擬	模擬不同負載條件（如不同功率、電流、電壓組合），測試產品在不同使用場景下的表現
溫度監控	實時監測產品關鍵部位（如IC、變壓器、輸出端）的溫升，防止過熱失效
保護功能測試	驗證 OVP（過壓）、OCP（過流）、OTP（過溫）、短路保護等是否正常觸發
數據采集與分析	記錄電壓、電流、功率、溫度、效率等參數，支持導出與分析
安全保護	包括過壓、過流、短路、過溫、漏電、急停等保護機制，保障測試安全
自動化控制	支持自動測試流程、參數設置、異常報警、數據記錄等

三、快充老化測試平臺的關鍵技術特點

技術項	說明
寬電壓/電流范圍	通常支持 0-600V、0-100A 或更高，適應不同功率快充設備（如30W、65W、100W、140W、240W等）
多協議支持	支持 QC3.0/QC4.0、USB PD3.0/PD3.1、華為SCP/FCP、三星AFC、OPPO VOOC、小米Dash/FlashCharge 等
動態負載模擬	可模擬快充過程中的電流電壓跳變，更真實地復現用戶使用場景
高精度測量	電壓/電流測量精度高（如 ±0.1V，±0.5mA），確保測試數據準確
多通道并行	支持 4/8/16/24/48 通道，適合產線批量老化
通信與控制	支持 RS232、RS485、LAN、USB、GPIB 等接口，可接入上位機或測試系統集中控制
溫升測試能力	配合溫度傳感器或溫箱，測試產品在快充過程中的溫升與散熱表現
老化模式多樣	支持連續老化、循環老化、間歇老化、特定場景模擬等

四、適用產品與測試對象

產品類型	說明
?? 快充充電器 / 適配器	如手機快充頭、筆記本快充適配器、多口快充、氮化鎵（GaN）快充等
?? 移動電源 / 充電寶	支持快充輸入輸出的移動電源產品
?? 車充 / 車載快充模塊	車載USB快充、點煙器快充、電動車充電模塊
?? 電池快充系統 / BMS	快充電池組、快充管理模塊、電池保護板
? 快充模塊 / IC方案驗證	用于芯片原廠、方案商對快充控制IC、協議芯片的驗證與老化
?? 快充線材 / E-Marker芯片測試	針對支持快充功能的線纜與識別芯片進行兼容性與負載測試

五、典型應用場景

場景	說明
?? 研發驗證	驗證快充設計方案的可靠性、兼容性、溫升控制與保護機制
?? 生產線老化	對出廠前的快充產品進行老化篩選，剔除早期失效品，提高良率
?? 品質檢測 / 出貨檢驗	作為品控手段，確保每一臺快充產品符合快充標準與安全要求
?? 認證與標準測試	為產品通過 CE、FCC、UL、CCC、USB-IF、PD認證等提供測試數據支持
?? 第三方檢測機構	為品牌商、供應商提供專業的快充老化與兼容性測試服務

六、快充老化柜老化測試平臺關鍵參數（選型參考）

參數項	說明 / 常見范圍
輸入電壓范圍	AC 100-240V（根據被測設備輸入要求）
輸出電壓范圍	0-20V / 0-30V / 0-60V（甚至更高，視快充標準）
輸出電流范圍	0-10A / 0-20A / 0-50A（支持大電流快充測試）
輸出功率范圍	30W / 65W / 100W / 140W / 240W / 300W+
快充協議支持	QC、PD、SCP、FCP、AFC、VOOC、FlashCharge 等
通道數	單通道 / 多通道（如4/8/16/24/48通道）
控制方式	觸摸屏、工控機、PC軟件、自動測試系統
數據采集	電壓、電流、功率、效率、溫度、充電曲線等
保護功能	過壓/過流/過溫/短路/過功率/急停等
通訊接口	USB、LAN、RS232、RS485、GPIB（用于系統集成）

七、方案價值總結

快充老化柜 / 老化測試平臺是保障快充產品質量、可靠性與用戶體驗的核心測試設備，特別適用于快充充電器、適配器、移動電源、車充、電池系統等的研發驗證、生產老化、品質控制、認證測試。

其核心價值包括：

•
?? 確保快充產品在長時間、高負載下的可靠性與一致性
•
?? 驗證快充協議兼容性、保護功能與溫升控制
•
?? 提高出廠良率，降低售后故障與品牌風險
•
?? 為研發優化與生產決策提供精準數據支持
•
?? 滿足快充產品高標準的市場與認證要求

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快充老化柜老化測試平臺

一、什么是快充老化柜 / 老化測試平臺？

二、快充老化柜老化測試平臺核心功能與測試能力

三、快充老化測試平臺的關鍵技術特點

四、適用產品與測試對象

五、典型應用場景

六、快充老化柜老化測試平臺關鍵參數（選型參考）

七、方案價值總結

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快充老化柜 老化測試平臺

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六、快充老化柜老化測試平臺關鍵參數（選型參考）